Diffraction des rayons X sur échantillons polycristallins: Instrumentation et étude de la microstructure

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Cette deuxième édition offre une présentation détaillée du phénomène de diffraction des rayons X à travers des échantillons polycristallins, ainsi que de ses nombreuses applications en science des matériaux. Elle débute par une introduction historique qui retrace les étapes clés de la découverte des rayons X, en mettant en lumière l’évolution de la diffraction.

Dans la première partie, vous découvrirez la théorie cinématique de la diffraction des rayons X, suivie des instruments de mesure utilisés pour analyser des échantillons polycristallins. Ensuite, nous aborderons les méthodes modernes de traitement des diagrammes obtenus et, enfin, nous explorerons les principales applications conventionnelles de la diffraction sur ces échantillons.

La deuxième partie se concentre sur l’étude quantitative de la microstructure des matériaux nanostructurés par diffraction des rayons X. Vous y trouverez une analyse des fondements théoriques de cette approche, ainsi qu’une caractérisation des matériaux polycristallins à orientation aléatoire. Nous terminerons par une étude des couches minces épitaxiées.

Plongez dans cet ouvrage pour enrichir vos connaissances sur la diffraction des rayons X et ses applications fascinantes.

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Cette version vise à rendre le texte plus accessible et engageant tout en conservant l’intégrité des informations.